E+H（恩格斯豪斯）料位計(jì)有多種類型的產(chǎn)品，每種產(chǎn)品都具有它*的性能，優(yōu)缺點(diǎn)都很明顯。下面為您分別介紹E+H各種料位計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)，為您的生產(chǎn)生活避免缺點(diǎn)，發(fā)揮產(chǎn)品的長(zhǎng)處德國(guó)E+H料位計(jì)是指對(duì)容器中固體物料高度的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)的儀表。 此種儀表通常輸出4-20mA或1-5V的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)與顯示儀表或計(jì)算機(jī)系統(tǒng)連接，也可以通過RS-485或Modbus/Profitbus/Hart現(xiàn)場(chǎng)總線方式與計(jì)算系統(tǒng)相連接。E+H料位計(jì)也稱為料位變送器、料位控制器、料位儀、物位計(jì)等。 E+H料位計(jì)廣泛應(yīng)用于石化、塑料、水泥、醫(yī)藥、飼料、食品、冶金、輕工、建材、環(huán)保等行業(yè)，實(shí)現(xiàn)對(duì)料位的上下限報(bào)警和控制。 常見E+H料位計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)如： E+H超聲波物位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：非接觸。 局限：粉塵影響/凹凸面影響/噪音非接觸式； E+H雷達(dá)料位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：非接觸。 局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響； 推薦：采用高發(fā)射頻率的，四線制的雷達(dá) E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：對(duì)某個(gè)點(diǎn)的測(cè)量。 局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響； E+H激光物位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：非接觸 局限：粉塵影響/凹凸面影響 E+H射頻導(dǎo)納料位計(jì)（電容式料位計(jì)） 優(yōu)點(diǎn)：點(diǎn)接觸 局限：介電常數(shù)有要求/時(shí)漂/溫漂/掛料/拉力； 推薦：建議采用進(jìn)口的產(chǎn)品 E+H重錘式料位計(jì)：分纜式及帶式兩種 優(yōu)點(diǎn)：直接測(cè)量/手動(dòng)控制 局限：傳統(tǒng)的纜式重錘容易發(fā)生斷錘/埋錘/亂繩 推薦：帶式重錘 射線式料位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：非接觸、穩(wěn)定 局限：有污染/價(jià)格高 E+H稱重式料位計(jì) 優(yōu)點(diǎn)：可以測(cè)量質(zhì)量/體積 局限：抗震問題/物料面狀況不知/價(jià)格高 由于不同的工業(yè)生產(chǎn)過程的特點(diǎn)不同，所以E+H料位計(jì)需針對(duì)不同的工藝條件來確定。為了能夠更明確地分析物位儀表,料位儀表的工作原理、特點(diǎn)和應(yīng)用環(huán)境，必須對(duì)物位測(cè)量的工藝要求進(jìn)行明確分析。 首先我們來分析液位測(cè)量的工藝特點(diǎn)： 1.液面是規(guī)則表面。但當(dāng)液體流進(jìn)、流出時(shí)容易產(chǎn)生波動(dòng)或生產(chǎn)過程中出現(xiàn)起泡、沸騰等變化時(shí)同樣也會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。 2.容器內(nèi)發(fā)生有液體各處密度、黏度或溫度等物理量不均勻的現(xiàn)象。 3.容器內(nèi)發(fā)生有高壓、高溫、液體黏度過大、大量臟污雜質(zhì)、懸浮物等。 固體物料的物理、化學(xué)性質(zhì)較復(fù)雜，如有顆粒狀的、也有粉末狀的，并且有些介質(zhì)為大小不均勻的顆粒；固體物料的含水量變化、溫度等也是不均勻的變化；料倉(cāng)振動(dòng)、料倉(cāng)形狀不規(guī)則等。 |
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